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雷達液(yè)位計(jì)是通過向被測介質發射電磁(cí)波,發射後的電磁波遇到介質被反射回來,通(tōng)過時(shí)間擴展技術原理,計算出電磁波(bō)發射和接收的時間間隔,從而…
雷達液位計
是通過向被(bèi)測介質發射(shè)電磁波,發射後的電磁波遇到介質被反射回來,通過時間擴展技術原理(lǐ),計算出(chū)電磁波(bō)發(fā)射和接收的時間間隔(gé),從而進(jìn)一(yī)步推算(suàn)出天線到被測介質表(biǎo)麵的距離。可見,雷達液位計能否順利發射出電信號對於液位測(cè)量就顯得頗為關鍵。但在我們日常工作中,信號被幹擾(rǎo)的現象時(shí)有發生。那麽(me),導致雷達液位計(jì)信號異常的幹擾因素都有哪些呢?
通過(guò)對導致雷達液位計的信號異(yì)常的因素進行分析發現,產生幹擾的原因有很多,幹擾源也多種多樣。但總(zǒng)體(tǐ)而言可以分為兩(liǎng)類:一類是內部幹擾,另(lìng)一類是外部幹擾。
一、外部幹擾
1、天體、天電幹擾
天體就是指太陽或是其(qí)他的恒(héng)星,因此天體幹擾指的(de)就是它們發出的電磁波對雷達液位計發(fā)出的信號產生了一定的幹擾(rǎo)。
但(dàn)對於天電這個術語,大家普遍感到陌生。其實,所謂天電,可(kě)以將其理解為由大氣、雷電等電離作用,或(huò)是火山、地震等自然現象產生的電磁波對雷達液位計的信號產生的幹擾。
2、光幹擾
光的幹擾主要在於半導體部件。在用來控製儀表的部件當中,多由半導體材(cái)料製成,而半導體(tǐ)元件在受到光的影響後,其導電性能就會改變(biàn),這樣一來,就會影響雷達液位計的正常使用。
3、熱(rè)幹擾
火(huǒ)電廠作(zuò)業過程中(zhōng),其熱力設備會產生大(dà)量的熱量,這些熱量會引起周圍(wéi)儀器(qì)以及環境溫度的變化,這也就是我們所說的熱幹擾(rǎo)。這些幹擾會對雷(léi)達液位(wèi)計的元件產生影(yǐng)響,進一步導致測量不精確等問題的出現。
4、濕度幹擾
當濕度升高(gāo),就會引起絕緣體電阻下降、電介質(zhì)介電數增加(jiā)、骨架蓬(péng)鬆、電阻增加,進而也就產生漏電流增加、電容量增(zēng)加、電感器變(biàn)化等。此外還會使膠質(zhì)變軟,測量精也會下降。
5、機械幹擾(rǎo)
所謂機械幹(gàn)擾,是指由於外部機器的大(dà)幅(fú)震動或衝擊,影響到雷達液位計,使雷(léi)達液位(wèi)計內部的一些元件(jiàn)同樣發生震動甚至是移位、變形,也可能使儀表頭指針鬆(sōng)動,使測量產生(shēng)誤差,對(duì)於這種情況我們通常加以隔板、減震彈簧等來緩解(jiě)衝擊。
6、化(huà)學幹擾
化學幹擾通常是(shì)指一些具有腐蝕性的氣體,例如酸、堿等,這些氣體(tǐ)長時間(jiān)的作用(yòng),不僅僅會損壞儀器及內部元(yuán)件,還會與金屬作(zuò)用導電,影響雷達液位計的正常工作。
二、內部幹擾(rǎo)
幹擾不僅僅來自於外部,也來自(zì)於雷(léi)達液位計內部。例如其中的導線、電源變壓器電子元(yuán)件之間的電感、電容等所產生的幹擾,此外,內部元件還會產生噪聲(shēng)幹擾。如今,大部分的雷達液位計經(jīng)改進後,由於采用了高頻率微波技術,使液位計的(de)性能大為改善,幹擾也隨之降低。